異物分析、付着物分析に使用する装置と特徴一覧

 

分析装置	特徴
顕微赤外分光分析(FT-IR)	・主に有機物を定性分析 ・約20μmのものまで測定可能
元素分析(XMA)	・無機物、金属異物を定性分析（1μm程度まで） ・検出元素の概略定量分析、マッピング分析も可能
顕微ラマン分光分析(RAMAN)	・1μm程度の微小異物まで定性分析可能 ・カーボン、無機物などの同定も可能
光学顕微鏡(OM)（+偏光顕微鏡(POM)）	・異物の形態を観察 ・製品中の発生位置(多層フィルム中の存在位置など)を観察
走査型電子顕微鏡(SEM)	・数nm～数百μmの観察が可能 ・異物や不具合部の表面(凹凸)形状・断面形態を観察

 

【異物分析測定事例】

・ 樹脂製品や食品、医薬品に混入した(練り込まれた)異物の定性
・ 液中の異物分析(濾過、抽出等のサンプリングを行い、分析致します)
・ フィルター捕集物の定性
・ フィッシュアイの原因調査

【付着物分析測定事例】

・ 製造工程中に発生した付着物の分析
・ 金属部品に付着したオイルの定性

【その他測定事例】

・ ゴム製品からブリードアウト(ブルーム)した成分の分析
・ 印刷不具合箇所の原因調査
・ 樹脂製品の変色原因、割れ原因の調査

 

上記以外でも、異物分析、付着物分析については多数実績が御座いますので、
分析手法の検討、ご提案もさせて頂きます。